根据巴克豪森判据判断系统是否稳定，所以咱们仿真都是用stb仿环路稳定性，看环路增益波特图而不是看开环增益或者闭环增益。 本文档描述了通用运算放大器的测试方法，包括VOS、CMRR、PSRR、SR等等测试方法，电子类专业的可以研究研究，还是不错的文档。 对于大部分运用运放的人来说，绝大部分情况下不会遇到需要测量运放的开环增益以及其他的一些参数，而且很多参数测量都较为困难，很难得到精准的实验结果。 但对于这些参数测量方法的讨论可以基于学生极大的启发。 在下图中，左边的是待测量开环增益的运放，右边是辅助闭环运放。
如果R5处于+1 V，若要使辅助放大器的输入保持在0附近不变，DUT输出必须变为–1 V。 二、运放的开环增益三、运放的输入阻抗、输出阻抗四、运算放大器的基本结构五、运放的开环和闭环使用总结 前言 作为硬件设计中最常用的运算放大器，有必要了解和掌握。 单个三极管放大倍数离散度很大，虽然硬件电路简单，却无法满足各种各样的放大倍数以及运算。 只依靠外围器件从而决定放大倍数的运算放大器应运而生。 运算放大器是一种 多级放大器 多级直接耦合放大器 高增益、高输入阻抗，低输出阻抗的多级直流耦合放大器 高共模抑制比、高增益、高输入阻抗、低输出阻抗的. 开环增益 当然，这些非线性测量方法在高精度直流电路中最为适用。
开环增益: 运算放大器环路稳定性分析的基础知识：双环路增益的故事
因此只有选择开环增益值较大的放大器，可以减小增益非线性误差发生概率。 但是产生增益非线性的原因很多，其中最常见的热反馈。 当温度变化是造成非线性误差的唯一原因时，降低负载将会有所帮助。 以一款开环增益为120dB（ 开环增益 倍）的放大器为例，噪声增益为100时，闭环增益误差为0.01%。 如果开环增益保持不变，那么无须测量直接标定处理0.01%的增益误差。
LM358数据手册中对增益带宽积的描述：最小0.7MHz，典型值为1.1MHz。 5.开环增益与闭环增益的关系 当开环增益很大的时候，闭环增益等于1… 理解： 开环电压增益是指放大器在闭环工作时，实际输出除以运放正负输入端之间的压差。 Aol随频率升高而降低，通常从运放内部的第一个极点开始，其增益就以-20dB/10 倍 频的速率开始下降，第二个极点开始加速下降。 注意，公式3中的百分比形式增益误差直接与噪声增益成比例，因此，有限AVOL对低增益的影响较小。
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在我的上一篇信号链基础文章《运算放大器环路稳定性分析的基础知识：双环路增益的故事》之后，我收到了有关如何生成我查看过的开环 开环增益 SPICE 仿真曲线的问题。 虽然有很多方法可以做到这一点，但我一直使用的方法是打开或“中断”循环… 运算放大器的开环直流增益可能非常高，107以上的增益也并非罕见，但250,000到2,000,000的增益更为常见。 直流增益的测量方法是通过S6切换DUT输出端与1 V基准电压之间的R5，迫使DUT的输出改变一定的量（图4中为1 V，但如果器件采用足够大的电源供电，可以规定为10 V）。
必须要注意的是，我们在任何情况下，都要避免让运放工作在单位增益带宽附近，或图2.3 所示的开环增益曲线和闭环增益曲线的相交点附近。 在这些频率点处，环路增益（从伯特图上看，等于开环增益减去闭环增益的值）趋于 0，运放的各类指标都急剧恶化，基本上无法正常工作。 因此在应用上面的经验时，还要考虑到闭环放大倍数的因素，闭环增益越大，所需放大器的带宽也会越宽。
开环增益: 开环增益理想运放的条件
锯齿电压波主要用作示波管电路中的扫描电压，锯齿电流波主要用作显像管电路中的偏转电流。 文章来自University of Applied Sciences NW Switzerland的Hanspeter S… 介绍一种语音电路的设计，说明了设计原理及控制方法。 该环节利用语音存储 再生芯片ISD1420、BTL功率放… 如图 4，相位裕度（Phase margin）定义为在放大器开环增益与频率曲线中，180°的相移与开环增益下降为 1(单位增益)处的相移之差的绝对值。 增益裕度（Am）定义为放大器开环增益与频率曲线中，180°的相移处的增益与放大器开环增益下降为 1 处的增益之差的绝对值。
- 在这里，电流测量应用本身被称为开环或闭环。
- 理想状态下，VOS和VX的关系图是一条斜率不变的直线，斜率的倒数为开环增益AVOL。
- 其实思路就是把交流信号抬高，负电压变为正电压。
- 计算方法也相同(1000 × TP1/1 V)。
- 他们可能需要为闭环步进系统让步，测试表明，这些系统比开环步进系统具有更大的性能优势。
在DC时，它一般在80 开环增益 dB至120 dB之间，但在高频时会降低。 如果Ib的值在5 pA左右，则会用到大电阻，使用该电路将非常困难，可能需要使用其它技术，牵涉到Ib给低泄漏电容（用于代替Rs）充电的速率。 测试点TP1上的电压是施加于DUT输入端的校正电压（与误差在幅度上相等）的1000倍，约为数十mV或更大，因此可以相当轻松地进行测量。 综上，运放单独仿真与它接在负反馈系统里相比，相位裕度是最差的情况了，即当反馈变弱时，结果是系统更稳定。
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但是开环增益受到工作环境影响产生变化时，便会引起闭环增益的不确定度。 当示例中的放大器受工作环境影响，开环增益下降到100dB时，闭环增益误差变为0.1%，即闭环增益误差的不确定度为0.99%。 单电源运放将峰值为-1到1V正弦波交流信号放 对于有负电压的交流信号怎么办呢？
这是我们在模电课本上学到的运放的一条基本知识。 开环增益 但现实总是残酷的，残酷到所有的运放的开环增益都不是无穷大，它是一个有限值。 本文要讨论的另一个问题是增益带宽积，其实更想多说的一点是增益带宽的那条曲线。
开环增益: 开环增益
顾名思义，增益带宽积就是放大器的带宽和带宽对应增益的乘积。 用数学表达式表示就是：使用上式有一个前提条件：即在一定频率范围内，增益带宽积才是一个常数。 上式中的fo如果不在满足增益带宽积为定值的范围内，则公式并不成立。 借助LM358和OPA847的数据手册来说明。
如果温度变化是非线性误差的唯一原因，减小输出负载可能会有所帮助。 为了验证这一点，需要在空载条件下测量非线性，然后与负载条件下进行比较。 下图1中，第一个示例中噪声增益为1000，可以看出，开环增益为200万时，闭环增益误差约为0.05%。 注意，若温度、输出负载和电压变化时开环增益保持不变，0.05%的增益误差很容易通过校准从测量结果中去除，这样就不存在整体系统增益误差。 但是，若开环增益改变，由此产生的闭环增益也会改变。
开环增益: LOTO示波器 实测 开环增益频响曲线/电源环路响应稳定性
一旦您确定下来这一点，您便可以开始寻找正确的放大器。 来自高速设计专家的告诫是：您应该避免使用相对您的应用而言速度过快的模拟器件。 因此，您要尽量选择一种闭环带宽稍高于信号最大频率的放大器。 当需要高增益时，可编程增益放大器电路的拓扑设计值得三思。 由于噪声和运放失调电流的原因，不建议使用具有很高阻值（》1MΩ）的反馈电阻。
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开环增益: 1 比较器输入输出特性仿真
断开环路后，我们在断点处注入一个测试信号i，i 经过环路一周后到达输出得到信号Vo，Vo和 i 的数学关系式就是我们要求的环路增益。 我们是一家全球性的半导体公司，致力于设计、制造、测试和销售模拟和嵌入式处理芯片。 我们的产品可帮助客户高效地管理电源、准确地感应和传输数据并在其设计中提供核心控制或处理。 如何制作音频电路及运用集成运放实现音频的 制作音频电路我认为所用的元器件可选性很多，可以用分立元件制作、可以用集成运放制作、还可以用专业的音频集成芯片制作，下面我针对以上这几种方式和朋友们说说。
- 对于大部分运用运放的人来说，绝大部分情况下不会遇到需要测量运放的开环增益以及其他的一些参数，而且很多参数测量都较为困难，很难得到精准的实验结果。
- 因此，噪声增益为100时，对应的闭环增益非线性约为7 ppm。
- 接part16还是先从开环增益曲线谈起，开环境曲线为什么在低频时为什么会有一个拐点呢？
- 输入增益调整电路 输入增益缩放电路由一个单一的平衡微分转换，低通滤波器和增益标度函数。
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- 有一项 1946 年早期使用运算放大器概念的专利，尽管当时并未使用该名称。
- 您可以通过使用低电容探头、在PCB上使用短连接线，并且避免在信号走线下大面积铺地来尽可能规避这些问题。
在第二个示例中，AVOL减少至30万，产生的增益误差为0.33%。 这种情况会使闭环增益中产生0.28%的增益不确定性。 大多数应用中，使用良好的放大器时，电路的增益电阻是绝对增益误差的最大来源，但是应注意，增益不确定性不能通过校准去除。 一般我们用的电源系统/控制系统或者信号处理系统都可以简单理解成负反馈控制系统。 开环增益 最典型的，运放组成的信号放大电路就是这样的系统。 本文以最简单的运放信号放大电路为例，演示如何使用LOTO示波器测量控制系统的开环增益频响曲线，以及演示电源的环路响应稳定性测试。
开环增益: 运算放大器之开环增益
上述测量运放开环增益电路中，运放处于开环状态，即输出没有任何信号通过负反馈连接到电路的输入端，此时运放的输出电压与输入正负极之间的电压之比就是运放的开环增益。 注意，公式3中的百分比形式增益误差直接与噪声增益成比例(即噪声增益较小时增益误差也较小)，因此，有限AVOL对低增益的影响较小。 这个环路增益方法可以在实际运行状态下测量环路增益，所以数据的可信度较高。 我们只需要简单的把环路断开就可以得到环路增益。
开环增益: 1 运算放大器的设计
从内部图可以看出运算放大器和比较器的差别在于输出电路。 运算放大器采用双晶体管推挽输出，而比较器只用一只晶体管，集电极连到输出端，发射极接地。 在ADI看来，必须确保测量精度不受PCB或测试装置的杂散电容和电感影响。 您可以通过使用低电容探头、在PCB上使用短连接线，并且避免在信号走线下大面积铺地来尽可能规避这些问题。 直流CMRR测量在图6所示电路中，在TP1测量失调电压，电源电压为±V（本例中为+2.5 V和–2.5 V），并且两个电源电压再次上移+1 V（至+3.5 V和–1.5 V）。